檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
功率循環(huán)測(cè)試儀
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- 華科智源
- 用 途:
- igbt測(cè)試,mos,二三極管,晶體管測(cè)試
- 華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對(duì)IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗(yàn),通過(guò)控制實(shí)驗(yàn)條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線(xiàn)失效和焊料層老化。實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵是控制結(jié)溫的波動(dòng)范圍以及最高溫度,得到不同條件下的實(shí)驗(yàn)壽命,從而得到IGBT的壽命。
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