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金屬膜厚測量儀

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  • 品　　牌：
  • 主要規格：
  • 金屬膜厚測量儀、膜厚測量儀、FISCHER膜厚儀
  • 用　　途：
  • 用于金屬、五金制品等鍍層膜厚的測試
    • 金屬膜厚測量儀，金屬膜厚測量儀在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。金屬膜厚測量儀可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。金屬膜厚測量儀根據客戶的不同需求，提高不同的型號可供選擇，不同之處在于測量臺的操控，是固定的或可調節的： XDL-210固定的XY軸及固定的Z軸 XDL-220固定的XY軸及電動的Z軸 XDL-230手動操控的XY軸及電動的Z軸，無需打開測試蓋便可操作 XDL－240電動的XY軸可以在測量門打開時變速移動XY桌出來給操作員放置樣品及開關測量門時移動XY桌變速返回到測理位置。
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    吳靜

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