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香港金霖電子有限公司

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薄膜鍍層測量儀

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  • 品  牌:
  • 主要規格:
  • 薄膜鍍層測量儀
  • 用  途:
  • 用于非常薄的鍍層膜厚的測量。
    • 薄膜鍍層測量儀測量貴金屬更靈敏。標準配備有WindowsXP中文操作界面。采用最新數學FP法,采用激光自動對焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器,可防止在對焦時造成一起的損壞。可適用于各種樣品,從較厚的樣品(機械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等      薄膜鍍層測量儀主要特點   ★搭載樣品尺寸的兼容性,能夠通過一臺儀器測量,從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品   ★具有焦點距離切換功能,適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量   ★彩色CCD攝像頭,通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。   ★鹵素燈照明        薄膜鍍層測量儀應用領域:   1、分析電子部品電鍍層的厚度   2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析   3、各鍍層的成分比例分析。
    香港金霖電子有限公司

    吳靜

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