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XULM膜厚儀

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品？
  • 品　　牌：
  • 主要規(guī)格：
  • XULM膜厚儀
  • 用　　途：
  • 用于更精密的電子產(chǎn)品厚度測量
    • XULM膜厚儀設(shè)備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497國際標準，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。XULM膜厚儀采用全新數(shù)學計算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。XULM膜厚儀儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。歡迎隨時來電咨詢或親臨我司測試及參觀!!! XULM膜厚儀采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來測量厚度，可以同時間測量多至層鍍層、或進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。XULM膜厚儀采用最新數(shù)學FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。
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    吳靜

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