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深圳市華科智源科技有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

動態DGS可靠性測試儀

  • 這真不是您需要的產品？
  • 品　　牌：
  • 華科智源
  • 主要規格：
  • 用　　途：
  • 用于SiC器件的動態可靠性測試
    • 產品介紹 華科智源基于多年可靠性測試經驗所研發的功率器件動態可靠性測試系統PSL-DHTGB適用于SiC-MOSFET 單管和模塊的動態可靠性測試。通過自主設計的驅動電源/驅動電路/測試工裝等關鍵零部件，獲得市場上最優化的開關速度與開關頻率，其測試效果已獲得世界知名廠商認可。 測試能力 參考標準 AQG-324，JEP184，JEP183A 適配樣品 SiC MOSFET功率器件 單管 TO-247-3L/4L，TOLL等 模塊 Tpak，easy1B/2B/3B，HPD等 優勢 產品規格 測試項目 DHTGB（DGS）動態柵極偏置可靠性測試 Vgs 典型測試范圍：-10~22V 頻率范圍 單管 TO247-3L/4L：0~500kHz 模塊 Easy1B/2B ：0~200kHz 模塊 HPD ：0~100kHz （根據器件與安裝條件取最優值調節） 占空比 10~90%（根據器件與安裝條件取最優值調節） dV/dt ≥1V/ns（根據器件與安裝條件取最優值調節） 過沖 0（根據器件與安裝條件取最優值調節） 監控參數 Igss ，Vth，波形（選配），外殼溫度（選配） 加熱/冷卻方式 風冷鰭片，水冷板+水冷機（選配），加熱板（選配） 其中 風冷鰭片的降溫效果取決于設備所處實驗環境， 水冷板的降溫效果取決于外接水冷機的冷卻水溫度， 加熱板最高溫度至200℃。 最大容量 單體測試柜 單管：18顆/層，疊加5層，共 90顆； 半橋模塊（以Easy1B為例）：9個/層，疊加5層，共45個； 三相模塊（以HPD為例）：3個/層，疊加5層，共15個； 單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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