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華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態參數測試儀可用于多種封裝形式的IGBT測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊，大功率IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的V-I...
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產品介紹HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，完全...
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廣州貝拓晶圓測厚系統用于研究材料在高溫狀態下熔體與其相應的基底材料間的接觸角變化規律。高溫接觸角測量儀HTC對于高熔點材料能實現高真空或惰性氣體保護氣氛下的表界...
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廣州貝拓顯微拉曼光譜儀CVRam是整體化設計的785nm的顯微拉曼光譜儀，結合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優點，同時克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就...
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廣州貝拓手持拉曼光譜儀手持拉曼光譜儀PTRAM785應用于有害物快檢、食品安全、地質地礦等多個領域；集自動校準、檢測、圖譜處理、數據庫檢索和識別于一體，操作簡便快速...
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中圖儀器SuperViewW納米級白光3d表面輪廓檢測儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它在半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納...
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中圖儀器GTS大范圍激光跟蹤高精度測量儀是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標測量機。它集激光干涉測距技術、光電檢測技術、精密機械技術、計算機及控制技術、現代數值計算理...
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中圖儀器WD4000半導體晶圓硅片表面3D量測系統用光學白光干涉技術、精密Z向掃描模塊和高精度3D重建算法，Z向分辨率最高可到0.1nm。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形...
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Agilent分光光度計AgilentCary4000紫外-可見分光光度計Cary4000是一款高性能紫外-可見分光光度計，它在175-900nm范圍內具有優異的光度特性，使其成為僅需極少樣品前處...
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安捷倫紫外分光光度計AgilentCary60紫外可見分光光度計AgilentCary60紫外-可見分光光度計采用高效、準確和靈活的設計，旨在滿足您當前和未來的挑戰性測試需求。Agilent...
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Agilent熒光光度計AgilentCaryEclipse熒光分光光度計使用簡單易用且可靠的熒光分光光度計可滿足您的分析需求，該分析儀可具有較高的靈敏度、可靠性以及良好的取樣功能...
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安捷倫熒光分光光度計AgilentCaryEclipse產品特性：●多種采集模式：熒光、磷光、化學/生物發光和時間分辨磷光測量都可輕松實現，無需更改任何硬件組件●使用維護成...
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