濟南蘭光機電技術有限公司廣州辦事處

薄膜厚度測定儀

CHY-C2薄膜厚度測定儀適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片等各種材料的厚度精確測量。薄膜厚度測定儀的特征：機械接觸式測量方法，不受測量材料的限制進口優質傳感器，測量分辨率高達0.1微米進口優質傳動元件，保證了試驗結果的穩定性、準確性測量頭對薄膜（紙張）的接觸面積、接觸壓力嚴格遵循相關標準特殊結構設計，保證上下測量平面的平行靈活、方便的配重方式更能滿足范圍更寬的測量，非標試驗易于實現試驗數據大屏幕液晶顯示，操作按鍵人性化設計可設置手動、自動兩種試驗模式，測量結果自動統計、打印具有電腦通信接口兼容ISO、ASTM等多種測量標準薄膜厚度測定儀技術指標：測量范圍：0～2mm（常規）（0～6mm可選）分辨率:0.1μm 測量速度：10次/min（可調）測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；〔50±1kPa（紙張）〕接觸面積：50mm2（薄膜）；〔200mm2（紙張）〕薄膜厚度測定儀執行標準： GB6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASMTD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 Labthink廣州發布，電話：020-81095968，傳真：020-81093749，手機：13631382021

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郭思嘉