檢測認證人脈交流通訊錄
- 菲希爾(XDVM)測厚儀是針對高要求用戶設計的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細的表面結構，它的新穎專利X－射線光學鏡片，創新的X-射線光學原理，使這部儀器能產生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數十微米的面積的結構也變成可能。配備了半導體射線適合測量薄到數NM的鍍層，FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細微的線。有極高精度，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計，容許放入大面積的物件進行測量 聯系人：王生：13316557996 電話：0755-29371655 傳真：0755-29371653 www.kinglinhk.com 地址：寶安中心區宏發中心大廈
