檢測認證人脈交流通訊錄
- 膜厚儀，電鍍膜厚儀，膜厚測試儀，X-射線測厚儀，可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現了超微小面積，高精度無損測量。可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 可測元素范圍：鈦(Ti) –鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。膜厚儀，電鍍膜厚儀，膜厚測試儀，X-射線測厚儀，應用于鐘表.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標. 聯系人：王生：13316557996 電話：0755-29371655 傳真：0755-29371653 www.kinglinhk.com 地址：寶安中心區宏發中心大廈
