檢測認證人脈交流通訊錄
- F30透明/半透明膜膜厚測試儀，膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務） 主要用于測試各種透明半透明的膜厚。 產品簡介： *是監測薄膜沉積的最有效工具，可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口，實時監控長晶速度，實時測量膜厚、 n 、 k 值以及半導體和絕緣體涂層的均勻性。可加裝三個探頭，同時測量三個樣品，有三種不同波長選擇 ( 波長范圍從可見光 400nm 至近紅外1700nm)； *測量的薄膜厚度范圍從 15nm 到 250um； *測量精度優于1% 。 主要特點： *測量精度高，優于 1% ； *測量速度快，幾秒鐘內可完成測量； *整套設備可放置在沉積室外； *操作簡單，使用方便； *價格便宜 應用領域: *分子束外延MBE； *金屬有機物化學氣相沉積MOCVD； *材料研究； *光電鍍膜應用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。
