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北京卓立漢光儀器有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)（SolarCellScan 10-Film）

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品？
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    • 卓立漢光研發(fā)生產(chǎn)的大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)為最新產(chǎn)品，作為一款太陽能電池量子效率檢測系統(tǒng)，大面積薄膜太陽能電池量子效率測量系統(tǒng)與以往不同的是其采用薄膜太陽能電池，是一款用于大面積太陽能電池光譜響應和量子效率測定大的實驗平臺。 在國際市場硅原材料持續(xù)緊張的背景下，薄膜太陽電池已成為國際光伏市場發(fā)展的新趨勢和新熱點。與傳統(tǒng)的單晶、多晶硅電池的制備工藝不同，制備大面積的薄膜太陽能電池成為可能。 SolarCellScan 10-Film是一款用于大面積太陽能電池光譜響應和量子效率測試的實驗平臺。它采用光纖輸出，結合大行程三維位移臺。可以實現(xiàn)對最大500mm*500mm面積的各種材料太陽能電池的光譜響應度、外量子效率、內(nèi)量子效率、反射率、表面均勻度、擴散長度、短路電流密度測量等參數(shù)的自動量測功能。 主要特點： ■ 全光譜太陽光模擬（300~2000nm），測試的光伏材料拓展至近紅外 ■ 單色光源可選擇氙燈、鎢燈 ■ 偏置光路適合多結及多層膜電池測量 ■ 一鍵式全自動多結電池測試功能 ■ 快速Mapping掃描功能，<30min（156mmX156mm，1mm step） ■ 一體化設計操作更方便，系統(tǒng)更穩(wěn)定 ■ 提供完善的QE/IPCE分析手段 ■ 提供LBIC高分辨率多波長激光模塊功能選項 （分辨率<250um，波長405nm、532nm、650nm、808nm、845nm、980nm） 氙燈、鎢燈以及自動氙燈鎢燈復合光源可選 根據(jù)IEC推薦標準，對太陽電池進行光譜響應測試，紫外區(qū)推薦使用氙燈（<400nm），而對可見與近紅外區(qū)則推薦使用鎢燈光源。系統(tǒng)有150W氙燈、150W溴鎢燈和氙燈鎢燈復和光源三種模式可選，滿足您的各種測試需求。 多功能的偏置光附件 系統(tǒng)提供偏置光源附件。偏置光源是太陽能電池量子效率測量時的有用附件，它提供給樣品一個用戶可調(diào)節(jié)的測試環(huán)境。在開放式的偏置光路上，系統(tǒng)預留了若干光學元件夾持器，用戶可以根據(jù)測量需要自行加裝衰減片、濾光片等，也可搭配六檔自動濾光片輪安裝不同的濾光片實現(xiàn)多結太陽電池的自動測量。多結太陽電池的用戶強烈建議選配偏置光源附件 快速Mapping功能 采用自主研發(fā)的高靈敏度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，可以分別實現(xiàn)AC與DC兩種模式的快速Mapping功能，并可一次掃描同時得到QE(LBIC)、反向率、內(nèi)量子效率、DL（Diffission Length）的Mapping數(shù)據(jù)。針對高分辨率應用，更換多波長激光光源和聚焦系統(tǒng)可實現(xiàn)<250um分辨率的Mapping。 人性化的樣品臺設計 積累10年自動平臺設計生產(chǎn)制造經(jīng)驗，針對大面積薄膜電池設計兩維各500mm掃描范圍，光斑大小通過聚焦離焦自動可調(diào)，完全滿足QE測試使用需求，可任意定位單點測量QE曲線，可自定義掃描兼具完成QE Mapping測量，自動平臺掃描控制使用卓立自主研發(fā)高速程序與硬件，結合高速數(shù)據(jù)采集，可以實現(xiàn)0.5mm間距條件下，每秒可掃描20點的高速掃描，對制程品質(zhì)監(jiān)控提供最快速的分析手段。 系統(tǒng)規(guī)格： 項 目 指標和說明 光源 150W氙燈光纖輸出,光學穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式, 測試光斑尺寸 3mm~10mm 單色儀 三光柵DSP掃描單色儀 波長范圍 300nm～2000nm 波長準確度 a) ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b) ±0.6nm(600g/mm,500nm) c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm) 掃描間隔 最小可至0.1nm 輸出波長帶寬 <5 nm 多級光譜濾除裝置 根據(jù)波長自動切換，消除多級光譜的影響 光調(diào)制頻率 4 - 400 Hz 標準探測器 標配標準硅探測器，InGaAs探測器,含校正報告 偏置光源 150W Xenon Lamp 光纖輸出 數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度 直流模式：100nA；交流模式：2nV 測量重復精度 對太陽光譜曲線積分重復性在±1%以內(nèi) 測量速度 單次光譜響應掃描<1min，IPCE完整測試<5min (步長5nm) X Y 自動工作臺 300x300mm 或 500x500mm 單波長 QE Mapping 速度：20 Point/Second @ 0.5 mm Step 選型表 SCS10-X150-F300 150W Xenon arc lamp for probe source, optical stability ≦0.8%, Adjust mechanism: It can easy remove chopper from probe light a) ± 0.3nm;1200g/mm, blaze 300nm (1st grating) b) ± 0.6nm;600g/mm, blaze 500nm (2nd grating) c) ± 0.8nm;300g/mm, blaze 1250nm (3rd grating) 6 Position Filter Wheel(200-2000nm) DC mode(Data Acquisition System with Pre Amplifier ) AC mode( Lock-In Amplifier ) Chopper Short current preamplifier Calibrated Si Detector Calibrated InGaAs Detector 150W Xenon Bias Light Source with fiber output, White bias light source, optical stability ≦0.8%, with 1 inch Filter Wheel XY Stage for QE Uniformity Scanning, 300mm x300mm SCS10-X150-F500 XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm SCS10-T150-F300 150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm SCS10-T150-F500 150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm

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