產品簡介:CMI980系列能夠執行膜厚量測及元素分析。使用高解析度檢測器提高元素量測之精度及膜厚量測之準確度，使用小準直器對於小點可以進行元素分析，也可對於產品進行掃描後顯示有害元素的組成及含量分布圖。

　　適用產業:用於電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾

　　X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。100瓦X射線管25mm2PIN探測器多準直器配置掃描分析及元素分布成像功能靈活運用多種分析模型清晰顯示樣品合格/不合格超大樣品艙同時分析元素含量和鍍層厚度

　　應用

　　-RoHS/WEEE-有害元素痕量分析-焊料合金成分分析和鍍層厚度測量-電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量-貴金屬合金分析和牌號鑒定