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檢測認證人脈交流通訊錄

痕量元素分析及鍍層厚度測量

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  • 痕量元素分析及鍍層厚度測量
    • X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器,能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比,從而降低檢測下限。探測器分辨率極高,能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級,確保產品滿足環保要求,幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型:經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域,即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品,大艙門使樣品更易放入。 -25平方毫米PIN探測器 -100瓦X射線管 -多準直器配置 -掃描分析及元素分布成像功能 -靈活運用多種分析模型 -清晰顯示樣品合格/不合格 -超大樣品艙 -同時分析元素含量和鍍層厚度
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    趙旭

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