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涂鍍層厚度測量及材料成分分析

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    • CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀,應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 • 快速精確的分析:正比計數探測器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 • 簡單的元素區分:二次光束過濾器可以分離重疊元素 • 性能優化,測量元素范圍廣: 可預設參數 CMI900 提供800多種預設應用參數/方法 • 杰出的長期穩定性: o 自動熱補償測量儀器溫度,糾正變化,提供穩定的結果 o 簡單快速的光譜校準,定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正 堅固耐用的設計 • 可以在實驗室或生產線上操作 • 堅固的工業設計 • 經行業驗證的技術,在全球銷售量超過3000臺 • 電子行業 • 五金電鍍行業 • 金屬合金行業 電子元件 有效調整生產過程,從而提高生產力 • 確保元件可靠性 o 測量焊料合金成份和鍍層厚度 • 優化質量控制,從而確保產品生命周期 o 分析導電性鍍層金和鈀的厚度 o 測量電腦硬盤上的NiP層厚度
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