電子元器件失效分析

       失效分析是加快電子元器件研制速度、提高元器件和整機成批量和可靠性的重要途徑。通過失效分析，元器件生產商可改進 元器件的設計和工藝，整機?可改進電路板設計，提升元器件和整機的測試和使用環境。

      廣電計量檢測（GRGT）深耕軍用電子元器件的失效分析與故障歸零，為軍用元器件、電機/機電部件、金屬結構件失效能?提供系統的失效分析，能?涵蓋器件設計、制造工藝、試驗或應用等各階段。

服務內容 

形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、?譜、質譜。

電分析技術：I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切?。

缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。

服務對象 

電子元件、分?器件、機電類器件、線纜及接插件、微處理器、可編程邏輯器件、存儲器、AD/DA、總線接?類、通用數字電路、模擬開關、模擬器件、微波器件、電源類...

覆蓋標準 

GJB 33A-1997半導體分立器件總規范；

GJB 65B-1999有可靠性指標的電磁繼電器總規范；

GJB 450A裝備可靠性工作通用要求；

GJB 536B-2011電子元器件質量保證大綱；

GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序；

GJB 597A-1996半導體集成電路總規范；

GJB 841故障報告、分析和糾正系統；

       廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業部電子602計量站，歷經五十余年的技術 沉淀，持續變革創新，實現跨越式發展，成長為?家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三?計量檢測機構，專業提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統研發等技術服務和 產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業眾多權威機構的認可資質。

       依據各?業及領域客戶的需求，廣電計量精?打造出涵蓋計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容 檢測、化學分析、食品農產品檢測、環保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢?業信息化系統開發、測控產品研發的?站式計量檢測技術服務和產品，貫穿企業品質管控全過程。

業務聯系信息：

李經理：138 0884 0060；郵箱：lisz@grgtest.com