軍用電子元器件二次篩選

      電?元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效?段。

       電?元器件篩選是通過?系列短期環(huán)境應(yīng)?加速試驗及測試技術(shù)，對整批電?元器件進?全批次?破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提?產(chǎn)品使?可靠性。

業(yè)務(wù)聯(lián)系信息：

李經(jīng)理：138 0884 0060；郵箱：lisz@grgtest.com

元器件篩選的目的：

1. 剔除早起失效產(chǎn)品。

2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點：

1. 篩選試驗為非破壞性試驗。

2. 不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。

3. 對批次產(chǎn)品進行100%篩選。

4. 篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。

二次篩選測試項目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、

X射線?破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性?

蹤檢漏、濕度試驗。

3.環(huán)境應(yīng)?篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度

沖擊、綜合應(yīng)?。

元器件篩選覆蓋范圍：

元件類：電阻、電容、電感、敏感元件、磁性元件、濾波器、晶體振蕩器。

器件類：光電耦合器、二極管、晶體管、集成電路。

機電類：繼電器、開關(guān)。

線纜類：連接器、電線電纜。

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

• 集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)
• 電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)
• 分立器件間歇壽命試驗系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)
• 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)
• 二極管恒流老煉系統(tǒng)

2.電測試需要的設(shè)備：

• 阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
• 高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器
• 頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

• 光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

• 外觀檢測、內(nèi)部無損檢測、密封性測試、內(nèi)部缺陷測試。

覆蓋標(biāo)準(zhǔn) ：

GJB
128A-97

半導(dǎo)體分?器件試驗?法

GJB 360A-96 電?及電?元件試驗?法

GJB 548B-2005 微電?器件試驗?法和程序

GJB 7243-2011
軍?電?元器件篩選技術(shù)要求

GJB 40247A-2006 軍?電?元器件破壞性物理分析?法

QJ 10003—2008 進?元器件篩選指南

MIL-STD-750D 半導(dǎo)體分?器件試驗?法

MIL-STD-883G

      ?電計量從1964年開始從事計量檢定?作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電?602計量站，歷經(jīng)五?余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變?創(chuàng)新，實現(xiàn)跨越式發(fā)展，成?為?家全國性、綜合化、軍?融合的國有第三?計量檢測機構(gòu)，專業(yè)提供計量校準(zhǔn)、產(chǎn)品檢測及認(rèn)證、分析評價、咨詢培訓(xùn)、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和 產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍?四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

      依據(jù)各?業(yè)及領(lǐng)域客?的需求，?電計量精?打造出涵蓋計量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容 檢測、化學(xué)分析、?品農(nóng)產(chǎn)品檢測、環(huán)保檢測、產(chǎn)品認(rèn)證、技術(shù)咨詢與培訓(xùn)、質(zhì)檢?業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā)、測控產(chǎn)品研發(fā)的?站式計量檢測技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過程。