芯片ESD/EOS測試（HBM、MM、CDM、LU）

    EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷，IC過電壓承受能力較低，產品就有損壞風險。
    對成品廠商而言，除了要求IC供貨商測試到所要求的ESD防護等級，對于所選用的IC，其承受EOS的能力也更加關注。

GRGT技術服務

       廣電計量（GRGT）能協助您進行測試 ，提供Test to Fail的驗證與失效模式報告。藉此了解芯片組件脆弱點與靜電承受度，作為您后續系統設計、芯片電路設計調整、甚至后續RMA失效分析的依據。

• 人體放電模式(Human Body Mode)測試；
• 機器放電模式(Machine Mode) 測試；
• 組件充/放電模式(Charged Device Mode) 測試；
• 制具式組件充/放電模式(Socket -Charge Device Mode) 測試；
• 閂鎖效應(Latch-up) 測試；
• 靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up)；
• 系統級靜電放電模式 (System ESD Test–ESD GUN TEST)；
• 測試ESD I-V Curve量測；
• 過度電性應力EOS (Electrical Overstress)測試；

GRGT服務優勢

• 豐富的ESD測試經驗：提供有效的測試方案，讓您能輕易找出產品問題點.
• 快速交期：三班制24小時運作.
• 測試結果準確度：靜電測試設備搭配自主建立之設備維修保養機制定期定檢保障設備輸出，將可協助客戶取得高精準度之測試結果，降低設備不正常輸出造成的測試結果差異。

參考規范

MIL-STD(美國軍規標準)

EIA/JEDEC(固態技術協會規范)

AEC(汽車電子協會規范)

IEC(國際電工委員會)

JEITA(日本靜電防護規章)

公司簡介：

       廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）是原信息產業部電子602計量站，經過50余年的發展，現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務，在計量校準、可靠性與環境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內領先水平。

GRGT目前具有以下芯片相關測試能力及技術服務能力：

芯片可靠性驗證 ( RA)：

芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高溫存儲試驗(HTSL), JESD22-A103 ；

溫度循環試驗(TC), JESD22-A104 ；

溫濕度試驗(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速應力試驗(HTSL / HAST), JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(HTOL), JESD22-A108；

芯片靜電測試 ( ESD)：

人體放電模式測試(HBM), JS001 ；

元器件充放電模式測試(CDM), JS002 ；

閂鎖測試(LU), JESD78 ；

TLP；Surge / EOS / EFT；

芯片IC失效分析 ( FA)：

光學檢查(VI/OM) ；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH ；Micro-probe;

聚焦離子束微觀分析(FIB)； 

彈坑試驗(cratering) ；芯片開封(decap) ；

芯片去層(delayer)；晶格缺陷試驗(化學法)；

PN結染色 / 碼染色試驗；

推拉力測試(WBP/WBS)；紅墨水試驗：

PCBA切片分析(X-section)；

芯片材料分析：

高分辨TEM (形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

SEM (形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)；

Raman (Raman光譜)；AFM (微觀表面形貌分析、臺階測量)；

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芯片檢測業務：

李紹政 13808840060；020-66837067

lisz@grgtest.com