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紫外光譜法，是測定物質分子在紫外光區吸收光譜的分析方法。紫外吸收光譜是物質吸收紫外光后，其價電子從低能級向高能級躍遷，產生吸收峰形成的。并非所有的有機物質在紫外光區都有吸收，只有那...
上海
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全國各地可靠性檢測咨詢曾清:13682597392,24小時免費服務,微信號:18123945317深圳市環宇測依據國內標準提供光老試驗、溫濕度試驗、氣體腐蝕試驗、機械沖擊試驗、碰撞試驗和跌落試驗、防塵防...
廣東
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IR原理紅外光譜IR,又稱傅立葉紅外光譜 FTIR,利用分子中的化學鍵或官能團可發生震動吸收，不同的化學鍵或官能團吸收頻率不同，在紅外光譜上將處于不同位置，從而可獲得分子中含有何...
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ICP原理測定每種化學元素的氣態原子或離子受激后所發射的特征光譜的波長及強度來確定物質中元素組成和含量。用于微量元素的分析，可分析的元素為大多數的金屬和硅、磷、硫等少量的非金屬。...
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TEM原理透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、...
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SEM原理高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射.儀器技術...
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SEM原理各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析的。儀器技...
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掃描電鏡原理依據電子與物質的相互作用。樣品表面加一個強電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應，樣品金屬內部的電子穿過勢壘從金屬表面發射出來，這種現象稱場發射。亮度高約比普通SEM高1...
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介電常數介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場，在相同的原電場中某一介質中的電容率與真空中的電容率的比值即為相對介電常數(relativepermittivity)。介電損耗介電損耗是...
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阻抗 交流電路中一段無源電路兩端電壓峰值(或有效值)Um與通過該電路電流峰值(或有效值)Im之比稱為阻抗，用z表示，單位為歐姆(Ω)儀器技術參數頻率范圍 ：3～3GHZ&...
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PY-GCMS測試_PY-GCMS檢測_裂解色譜質譜聯用_服務
原理裂解色譜是一種有效的分析技術，它能將不揮發的分子加熱分解成適合色譜分析的碎片。從而產生一種不揮發樣品的可重現特征指紋。這種技術可以應用在許多不同的領域，儀器技術參數...
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DMA原理樣品處于程序控制的溫度下，并施加單頻或多頻的振蕩力，測定其儲能模量、損耗模量和損耗因子隨溫度、時間與力的頻率的關系。儀器技術參數溫度范圍 ：-100～350℃溫...
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TMA原理對樣品施加一定的負荷，測定其形變隨溫度的變化的方法儀器技術參數溫度范圍 ：-50～550℃溫度精確度 ：±0.01℃升溫速率：0.1～100℃/min送樣...
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