檢測認證人脈交流通訊錄
- 本膜厚測量儀適用于nm及um級薄膜厚度測量，測量的空間分辨率（測量點的大小）可達10um，厚度測量準確度為nm級。
此款膜厚測量儀適用于：
顯示器、觸摸屏、太陽能電池、R2R 光學鍍膜等產業的薄膜厚度測量
光學材料參數測量、彩色濾光片色度及穿透率測量。(如：Oxide, Nitride,
ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等樣品)
技術參數：
1.厚度測量范圍：10 nm ~ 30 μm (采用Ocean Optics 光譜儀)
(Optional: up to 250 μm)
2.厚度測量重復性：< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si
3.測量點大小 : Macro(~3 mm)
(Optional 選項加顯微鏡 : 10 μm – 3 mm)
4.測量時間：< 1 sec
5.其它功能：折射率(n)及消光系數(k)測量
反射率(R)及穿透率(T)測量
色度參數(x, y, Y, L*, a*, b*)測量
(Optional:在線檢測、實時8-16 通道測量)
6. 機臺尺寸：長寬高約31*27*30 (cm)。
北京錦坤科技有限公司
張女士
- 地址：
- 北京市海淀區農大南路1號硅谷亮城2號樓B210
