平面光學元件光譜分析儀（型號：PR-YB01） 

 
測試類型：
 
1.光學元件的反射
 
2.透射光譜測量多角度絕對
 
3.相對反射率測量，透射率測量
 
4.反射/透射比及膜性測量 
 
 
適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能
 
 
波長范圍：380~1000nm/600~1200nm）
 
角度位移范圍：2.5~357.5°
 
最小角位移：0.01°
 
波長分辯率：0.03nm~10nm（由所選波長范圍確定）
 
測量最大相對誤差：<1.0%
 
動態范圍：2×108，1300：1（單次測量）
 
校正線性度：99.8%
 
單次測量時間：100ms（最小）
 
功耗：200W電源： 210~245V - 45~60Hz
 
信號接口：USB 2.0（USB 1.1 兼容）
 
操作系統：Windows