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上海巴拓儀器有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

帶光源讀數顯微鏡

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  • 品  牌:
  • 主要規(guī)格:
  • BTSKL-40X
  • 用  途:
  • 可測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等,尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸
    • 用途: BTSKL-40X型便攜式帶光源讀數顯微鏡結構簡單、使用方便。可測定孔距、刻線寬度、刻線距離、鍵槽寬度、狹縫凹痕、寬度、長度、金屬表面質量、纖維、織物密度、野外標本等,尤其適合測量布氏、洛氏及維氏硬度試驗壓痕尺寸。其中BTSKE-40X型便攜式放大鏡帶角度分劃板,廣泛應用于精雕行業(yè)刀頭角度測量。 技術參數: 型號:BTSKL-40X 規(guī)格:50×23×138MM 40倍帶光源讀數顯微鏡 (帶刻度 1DIV/0.02MM) 特點: 1、可調焦,并自帶純白LED光源,(高亮度晶體發(fā)光二極管,使用壽命長達10年以上)使用 時不受環(huán)境光線限制。 2、帶刻度,能準確讀出細小物品的實際尺寸。 3、本顯微鏡對準觀察物在調焦清晰時,本顯微鏡刻度尺寸上的1小格等于實際尺寸0.02MM; 0~1等于實際尺寸1MM,測量范圍0-4MM 4、放大倍數40×,觀測清晰、精確,最小格值0.02MM。

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