檢測認證人脈交流通訊錄
- 發射光譜/光源光譜測量系統 ZLX-ES系列發射光譜/光源測量系統 發射光譜/光源測量系統介紹 發光體，如白熾燈、熒光燈、LED等輻射光譜及發光特性的測試，對研究其特性有很大幫助。系統不僅可測量光源或其他發射光譜分布，而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。 針對不同輻射光源的特性，可靈活選擇測試系統，如：寬帶光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-λ150系列單色儀系統；激光器、放電燈、等離子體、原子發射光譜等要求分辨率高，可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列單色儀系統；寬波長范圍（UV～IR），建議采用雙出口單色儀接兩個探測器；測試寬光譜范圍的發光體，建議采用SD濾光片輪消多級光譜。 系統組成：分光系統＋檢測系統＋數據采集及處理系統＋軟件系統＋計算機系統
