產品名稱：X射線熒光光譜儀X-RAY XDVM-W產品型號：X-RAY XDVM-W

　　產品用途：測量涂鍍層厚度及材料

　　產品類別：涂鍍層測量儀

　　產品代碼：005

　　產品說明

　　儀器介紹：德國FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。材料分析和鍍層厚度測量，范圍從鋁(Z=13)到鈾(Z=92)詳細信息：德國FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了最新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨特的特點。獨一無二的WinFTM®V.3或WinFTM V.6軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析(使用WinFTM®V.6軟件)。

　　典型的應用范圍如下：單一鍍層：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等；二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金等；三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金等；雙鍍層：例如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等；雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe；最多24種鍍層(使用WinFTM V.6軟件)；應用范圍:材料分析和鍍層厚度測量，范圍從鋁(Z=13)到鈾(Z=92)特點:操作容易、快速、手動定位樣品。配備多種準直器，確保有高強度訊號。標準軟件WinFTM®V.6；PDM測量方向由下而上X射線管微焦距；可加Ni和Al濾片；可編程節能功準直器4個圓形準直器；0.2mm/0.6mm/1mm/2mm軟件控制，馬達調節0.3mm最小測量面積有效對焦范圍2mmXY移動范圍不適用Z-軸不適用，光學對焦；可至測量臺上2mm距離測量室尺寸320mm×460mm×90mm測量室大容量，配備固定及可更換的樣品支架對焦方式利用旋鈕視覺對焦放大倍數光學：34-46×；數字：分級放大1、2、3、4× 總倍數：34-184× 廈門鑫博特科技有限公司銷售熱線：0592-3109941 3109938 3109939傳真：0592-3109936www.xmxbt.com　　　　　 E-mail：xbt-xm@163.com 　　　　地址：福建省廈門市湖里區創業園創業大廈622單元 郵編：361009

　　注：我公司主要生產和銷售渦流導電儀,金屬電導率測量儀,電導率測量儀,數字金屬電導率測量儀,儀器儀表,無損測量儀, D60K金屬電導率測量儀,涂鍍層測量儀,硬度測量儀,厚度測量儀,涂鍍層測厚儀,探頭微硬度測量儀,電導率儀