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IC器件測試插座

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    • IC器件測試插座   IC器件測試插座、高頻測試插座   GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)   適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座   1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值   -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間   短-溫度范圍(典型值)   -40至+150℃(典型值)   [可接受的器件]   FTGB196(賽靈思)   256針FBGA(英特爾)   FT256/FTG256(賽靈思)   FG256/FGG256(賽靈思)   FG320/FGG320(賽靈思)   [可接受的器件]   FTGB196(賽靈思)   256針FBGA(英特爾)   FT256/FTG256(賽靈思)   FG256/FGG256(賽靈思)   FG320/FGG320(賽靈思)   GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)   適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座   1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值   -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間   短-溫度范圍(典型值)   -40至+150℃(典型值)   https://www.chem17.com/st433170/erlist_2495307.html   http://www.leaderx.com.cn/Products-38193042.html
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