高精度可控硅測試儀

   ST-DC2000（250A）

可測試 19大類27分類 大中小功率的 分立器件及模塊的 靜態直流參數
（測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極輸出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA

支持曲線掃描圖示功能

   
   ? 高精度可控硅測試儀-產品應用

應用領域
高精度可控硅測試儀適用于軍工院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 ）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產線自動化測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規?；?、自動化測試）

  ? 高精度可控硅測試儀-產品簡述

       高精度可控硅測試儀產品的擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
       曲線追蹤儀（晶體管圖示儀）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線，可快速而準確地生成精確的數據點。數據增量是可編程的線性或對數，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲線數據。此外， 針對多條曲線，設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發送到一個單獨的 Excel 工作表。系統能夠更快，更簡潔的創建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊）。就是這么簡單。
        設備支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力，在運行過程中，每個圖表都是可視的，每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統運行速度快，可進行數據記錄，提供更##的數據工具箱，能夠運行多條曲線并自動排序，自動將數據存入 Excel 表格，具有縮放功能，光標重新運行功能以及其他許多優點。
       系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

? 高精度可控硅測試儀-產品特點

?高精度可控硅測試儀的測試范圍廣（19大類，27分類）

?升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

?采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300us

?被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試, 保證被測器件不受損壞

?真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導 ，其結果與器件實際值偏差很大）

?系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排障

?二極管極性自動判別功能，無需人工操作

?IV 曲線顯示 / 局部放大

?程序保護*大電流/電壓,以防損壞

?品種繁多的曲線

?可編程的數據點對應

? 增加線性或對數

?可編程延遲時間可減少器件發熱

?保存和重新導入入口程序

?保存和導入之前捕獲圖象

?曲線數據直接導入到 EXCEL

?曲線程序和數據自動存入 EXCEL 
 

? 高精度可控硅測試儀-測試能力