檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
LZ-200J/LE-200J/LH-200J日本KETT膜厚計,膜厚儀,涂層測厚儀,超音波膜厚儀
- 主要規(guī)格:
- LZ-200J/LE-200J/LH-200J
- 用 途:
- 日本KETT膜厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性復(fù)層的厚度(如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆)以及非磁性金屬基體(如是銅、橡膠、油漆塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能,可外接電腦
- 產(chǎn)品名稱:日本KETT膜厚計,膜厚儀,涂層測厚儀,超音波膜厚儀
產(chǎn)品型號:LZ-200J/LE-200J/LH-200J
一、產(chǎn)品特點:
日本KETT膜厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性復(fù)層的厚度(如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆)以及非磁性金屬基體(如是銅、橡膠、油漆塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能,可外接電腦。
二、產(chǎn)品參數(shù):
◆測定方法:電磁式/高頻渦流式
◆測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層LE-200J/非磁性金屬上絕緣層LH-200J
◆測定范圍:0-1500um或0-60.0mils
◆測定精度:<50um±0.3um>15um±2% ; <50um±0.3um>50um±2%
◆分辨率:<100um 0.1um ; >100um 1um
◆測試面積:≥3X3mm; ≥5X5mm
◆統(tǒng)計功能:測試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差
◆界限設(shè)定:可設(shè)定上/下限數(shù)值
◆測試單位:公/英制互換
◆顯示方式:LCD數(shù)顯
◆操作面板:密封防水按鍵
◆打印:本機配備打印機打印統(tǒng)計數(shù)據(jù)
◆附屬品:基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/測頭/電池/曲面支架/皮套/說明書
◆電 源:主機5#堿性電池X6個 打印機5#堿性電池X4個帶220V變壓器
◆體 積:120(W)X 250(D)X 55(H)
◆重 量:110g