三維MEMS形貌儀
主要特點
長工作距離確保足夠的MEMS測試探針操作空間
全窗口范圍測量
標準5X、10X、20X物鏡
納米級分辨率
價格適中
配置靈活
滿足專業微系統研究人員測試需求
MEMScriptTM軟件,可實現三維MEMS形貌測試,控制MEMS器件,分析器件特性,實時器件性能測量。
MEMScript 軟件特點
相移干涉三維形貌測量(PSI)
振動波輸出
Decision making capability (full logical branching)
頻閃檢查成像功能
簡潔用戶界面
光源亮度自動設定
提供GPIB外部設備控制界面
提供串口外部設備控制界面
兼容IntelliwaveTM軟件
MATLAB, IDL, MS Excel,and LabVIEW軟件界面


電壓放大器選件 真空源&快門控制選件

定位物鏡選件 垂直掃描VSI測量選件
大范圍掃描,閉環控制
Optopro 622-A技術規格
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專利技術
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長工作距離干涉顯微鏡
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系統
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測試波長
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532 nm非相干光源
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放大倍率
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5X, 10X, 20X
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相機
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1/2" B&W Digital Camera
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探針顯微定位單元
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Signatone (QTY:4)
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電壓放大器
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EMOpto 4-channel (optional)
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防震臺
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Vibraplane
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真空/快門
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VacPak
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Part Viewing
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實時視頻顯示器顯示
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物鏡
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放大倍率
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5x
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10X
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20X
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數值孔徑
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0.14
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0.28
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0.42
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工作距離(mm)
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34.0
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33.5
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20.0
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聚焦長度(mm)
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40
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20
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10
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分辨率(µm)
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2.0
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1.0
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0.7
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聚焦深度(µm)
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14.0
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3.5
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1.6
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面內分辨率(nm)
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20
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10
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5
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聚焦分辨率(nm)
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+/- 5
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+/- 5
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+/- 5
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市場1- V x H(mm)
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1.32 x 1.80
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0.66 x 0.88
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0.33 x 0.44
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Note 1: for 2/3 inch CCD.
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電子控制單元
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功率
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Powered from Computer
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機械設計
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尺寸
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762 mm x 610 mm x 762 mm (30" x 24" x 30")
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重量
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68 kg (150 lb)
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環境要求
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溫度范圍
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15 to 30ºC
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溫度變化率
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<1.0ºC per 15 min
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濕度
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Relative 5% to 95%, no condensing
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防震
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控制系統
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計算機
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Dell PC
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控制界面
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National Instruments
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軟件
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MEMScriptTM
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經濟型MEMS三維形貌儀 模塊化MEMS三維形貌儀
