檢測認證人脈交流通訊錄
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
- 美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
產品特色∶
1. 全球唯一能提供NIST等級的標準樣品，與美國NREL共同合作。
2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數，可設定多點分析，以確定制程品
質。
4. 針對CIGS各種鍍層材質的濾光片，共5種
5. X-Y-Z三軸自動定位，軸承最長距離為8”X8”X6”，并有自動聚焦弁?/div>
6. 具有表面相對等距自動調整系統
7. 采用自然光，LED白光，無色差
8. 采用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時輻射安全裝置
11. 可將實驗室建立的數據直接復制至線上檢測機臺上。
基本規格：
X射線發生部 電壓 最大50kV，多段電壓切換
電流 4-1000μA，可做自動調整設定
準直器 共五個
偵測器 Pin or Si
檢測器 冷卻方式 電子冷卻
五種濾波器自動切換
電源 AC110~240V, 50/60 Hz
應用領域：
鍍層厚度分析
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。
(2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。
(3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。
其它型號：
薄膜太陽能檢測設備：
應用于薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品，快速(60秒內)非破壞檢測。
● 生產制程專用模塊 SMX-FPV: 適合于設備商turn-key使用，直接OEM與生產制程端整合。
● 實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用于roll to roll、真空與非真空制程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用于各種制程產在線不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。
（聯系電話 13068486856 0755-84444742）
http://www.eastco.hk
http://www.eastco-hk.com
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN
生產制程專用模塊 SMX-FPV
實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI
產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH
