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儀器名稱:
X射線熒光光譜分析儀(XRF)
型號:
帕納科Axios,銠靶
檢測項目:
分析元素:定性可以做到F,定量可以到Na
應用范圍:
可進行固體、粉末等多種樣品的定性分析和定量分析。
制樣要求:
1.定性分析。粉末樣品,粒度不超過180目,需1g以上;塊體樣品,要求表面平整光潔無污染,直徑34-38 mm,厚度為3-5 mm的圓柱;
2.定量分析。只能測試粉末,需3-5 g;
結果可以以單質或氧化物形式給出。
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