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深圳市賽特檢測(cè)有限公司

檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
  • 高溫測(cè)試 高溫檢測(cè) 高溫試驗(yàn) 深圳市賽特檢測(cè)技術(shù)有限公司

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  • 對(duì)應(yīng)法規(guī):GB/T GJB ASTM
    CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
  • 高溫測(cè)試 高溫檢測(cè) 高溫試驗(yàn)  :

    深圳市賽特檢測(cè)有限公司(簡(jiǎn)稱STT)是國(guó)內(nèi)較早開(kāi)展環(huán)境可靠性工程檢測(cè)技術(shù)的研究與應(yīng)用的專業(yè)第三方檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu),經(jīng)過(guò)十?dāng)?shù)年的發(fā)展,已成為集環(huán)境可靠性測(cè)試、機(jī)械可靠性測(cè)試、包裝運(yùn)輸測(cè)試、材料測(cè)試、電磁兼容測(cè)試、安規(guī)、失效分析、理化檢測(cè)等項(xiàng)目為一體的綜合性檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。現(xiàn)有規(guī)模、測(cè)試能力和水平處于國(guó)內(nèi)檢測(cè)機(jī)構(gòu)的領(lǐng)先水平,并培養(yǎng)出一批高素質(zhì)檢測(cè)工程師人員,積累了豐富的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)。
           STT實(shí)驗(yàn)室作為一個(gè)公正性的第三方檢測(cè)單位,其運(yùn)行資質(zhì)一直是STT及廣大客戶關(guān)注的重點(diǎn),為此STT先后通過(guò)了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IECQ國(guó)際電工委員會(huì)電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系對(duì)ISO/IEC 17025實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行資質(zhì)的審核,及ISTA 國(guó)際安全運(yùn)輸協(xié)會(huì)的認(rèn)可和CNAS中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)的認(rèn)可,出具的數(shù)據(jù)及報(bào)告公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效,與所有成員國(guó)達(dá)成互認(rèn)。 STT堅(jiān)持 ISO/IEC 17025體系要求的持續(xù)改善精髓理念,長(zhǎng)期致力于改善結(jié)構(gòu)、優(yōu)化流程,力求以更專業(yè)的檢測(cè)技術(shù)、更一流的設(shè)備、更高效的服務(wù)、更有優(yōu)勢(shì)的價(jià)格服務(wù)廣大企業(yè)用戶。 賽特檢測(cè)主要從事軍用/民用電工電子、信息和機(jī)械產(chǎn)品試驗(yàn)工程技術(shù)的研究、檢測(cè)技術(shù)服務(wù)、咨詢培訓(xùn)等,涉及、民用、電子、汽車、航空、航天、兵器、船舶、通用設(shè)備、機(jī)械等應(yīng)用領(lǐng)域。  STT致力于通過(guò)在環(huán)境可靠性試驗(yàn)與試驗(yàn)工程技術(shù)方面自主科技創(chuàng)新活動(dòng),為電子、汽車、集成電路、微波、光電、機(jī)電、機(jī)械、IT領(lǐng)域等不同廠商生產(chǎn)的各種產(chǎn)品提供專業(yè)、全面的可靠性試驗(yàn)、可靠性設(shè)計(jì)及工藝改進(jìn)的系統(tǒng)解決方案,促進(jìn)科技進(jìn)步,確保產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性符合標(biāo)準(zhǔn),降低企業(yè)質(zhì)量成本、促進(jìn)企業(yè)發(fā)展、增強(qiáng)企業(yè)的競(jìng)爭(zhēng)力。   賽特檢測(cè)經(jīng)過(guò)數(shù)年的積累和發(fā)展已建設(shè)成為一個(gè)集試驗(yàn)技術(shù)研究與應(yīng)用、試驗(yàn)檢測(cè)與分析、試驗(yàn)設(shè)備研制為一體的綜合性檢測(cè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。擁有一支高學(xué)歷高素質(zhì)專家團(tuán)隊(duì),具備豐富的環(huán)境可靠性試驗(yàn)工程技術(shù)、失效分析技術(shù)、理化檢測(cè)技術(shù)研究及實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室,并依據(jù)ISO/IEC17025:2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理,遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則,依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),為企業(yè)提供專業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。

     

    (高溫運(yùn)行、高溫貯存)的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。
    為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng),同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果,標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
    高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
       高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:
    a. 填充物和密封條軟化或融化;
    b. 潤(rùn)滑劑粘度降低,揮發(fā)加快,潤(rùn)滑作用減??;
    c. 電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞;
    d. 加速高分子材料和絕緣材料老化,包括氧化、開(kāi)裂、化學(xué)反應(yīng)等;
    e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
     
     
    參考標(biāo)準(zhǔn)
    IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》
    GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
    MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
    GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)》
    GJB360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108高溫壽命試驗(yàn)
    MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
    GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
    MIL-STD-883D 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
    SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗(yàn)
    SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.2 高溫貯存試驗(yàn)
    GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
    QC/T 413-2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》
    YD/T 1591-2009《移動(dòng)通信手持機(jī)充電器及接口技術(shù)要求和測(cè)試方法》

      
    實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>

    為了考察高溫負(fù)載對(duì)試樣的影響,確定試樣在高溫負(fù)載條件下工作的適應(yīng)性。該實(shí)驗(yàn)一般用到 高溫試驗(yàn)箱。

    實(shí)驗(yàn)原理

    在高溫直流負(fù)載條件下,被試樣品會(huì)受到高溫應(yīng)力和電應(yīng)力的雙向作用,其電性能和內(nèi)部結(jié)構(gòu) 都會(huì)有一定程度的變化。試驗(yàn)后對(duì)被試樣品的電性參數(shù)及外觀進(jìn)行檢查,就能判斷被試樣品抵 抗高溫和電流負(fù)載的能力。

     


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