1、 前言
1.1 工作原理
X射線照相法探傷是利用X射線在物質(zhì)中的衰減規(guī)律和射線能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光、光化作用的特點(diǎn)，將射線穿過被探工件照射到X射線膠片上使膠片感光，再經(jīng)過暗室處理，得到反映工件內(nèi)部情況的照相底片，利用這種底片在強(qiáng)光燈上分析，從而判斷被探工件內(nèi)部質(zhì)量。

1.2 X射線照相檢測的特點(diǎn)
1、檢測結(jié)果有直接記錄-------底片，是各種無損檢測方法中記錄最真實(shí)、最直觀、最全面、可追蹤性最好的檢測方法；
2、可獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn)確；
3、體積型缺陷檢出率很高，而面積型缺陷的檢出率受多種因素影響；
4、適宜檢驗(yàn)輕薄的工件而不適宜較厚的工件；
5、適宜檢測對接焊縫，檢測角焊縫效果差，不適宜檢測板材、棒材、鍛件；
6、對缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸（高度）的確定較困難；
7、檢測成本高、檢測速度慢且射線對人體有傷害；

1.3 X射線照相檢測的設(shè)備
1、X射線機(jī)：攜帶式X射線機(jī)、移動(dòng)式X射線機(jī)和固定式射線機(jī)；
2、膠片：增感型膠片和非增感型膠片
3、增感屏：金屬增感屏、金屬熒光增感屏、熒光增感屏；
4、像質(zhì)計(jì)：絲型像質(zhì)計(jì)、階梯孔型像質(zhì)計(jì)、平板孔型像質(zhì)計(jì)、槽型像質(zhì)計(jì)、雙絲像質(zhì)計(jì)；
5、其他設(shè)備有：觀燈片、黑度計(jì)、暗室設(shè)備和器材、標(biāo)記等

2、 X射線照相檢測的工藝流程
1、試樣的準(zhǔn)備：送檢樣品的表面檢查符合相關(guān)要求；
2、透照：按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、工藝規(guī)程、工藝圖進(jìn)行透照；
3、暗室處理：對曝光后的底片進(jìn)行顯影、停影、定影、水洗和干燥；
4、評片：在觀燈片下進(jìn)行評片，判斷工件質(zhì)量的符合性，得出結(jié)論；
5、檢驗(yàn)報(bào)告與記錄：認(rèn)真填寫原始記錄和檢驗(yàn)結(jié)果記錄，連同底片一起作為產(chǎn)品質(zhì)量檔案保存；

3、 案例分享
客戶要求對一塊材質(zhì)為Q235B的對接焊縫進(jìn)行X射線拍照，板厚為20mm檢測焊縫內(nèi)部是否存在缺陷。檢驗(yàn)級別：JB/T 4730.2-2005 AB級 驗(yàn)收級別：JB/T 4730.2-2005Ⅱ級

本文來源：http://www.mttlab.com/2015/0518/151.html

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