集成電路/芯片質(zhì)量一致性檢驗

       質(zhì)量一致性檢驗是對電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量的一種檢驗方式，協(xié)助生產(chǎn)企業(yè)為了確保產(chǎn)品質(zhì)量在不同批次的生產(chǎn)過程中保持穩(wěn)定而進行的質(zhì)量控制方式。

      定期進行質(zhì)量一致性檢驗，不僅可以隨時判斷生產(chǎn)產(chǎn)品批質(zhì)量是否符合規(guī)定的要求，而且可以及時管控生產(chǎn)過程質(zhì)量的穩(wěn)定性。它可以客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程及各種使用環(huán)境下的質(zhì)量狀況，從而達到兩個目的：在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質(zhì)量；在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質(zhì)量維持在一定的（民品要求符合產(chǎn)品設(shè)計要求，J品要求滿足鑒定批準(zhǔn)）質(zhì)量水平。

適用范圍及參考標(biāo)準(zhǔn)：

       電子元器件批量生產(chǎn)階段產(chǎn)品，出于質(zhì)量管控的目的均可委托進行檢驗。參考標(biāo)準(zhǔn)涉及：GJB 597B 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范、GJB 548B微電子器件試驗方法和程序。

質(zhì)量一致性檢驗主要包括逐批檢驗和周期檢驗兩種形式

A組：逐批檢驗；

B組：逐批檢驗；

C組：每三個月，監(jiān)控芯片老化一致性；

D組：每六個月，監(jiān)控封裝/外殼一致性；

E組：逐批檢驗。

一、逐批檢驗

      逐批檢驗是對每個提交的檢驗批的產(chǎn)品批質(zhì)量，通過全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定要求而進行的一種檢驗，標(biāo)準(zhǔn)中主要包括A組、B組、E組檢驗。

• 檢驗批的構(gòu)成通常由同型號、同等級、同種類、同尺寸、同結(jié)構(gòu)且生產(chǎn)時間和生產(chǎn)條件大體相同的產(chǎn)品組成。（不一定等于生產(chǎn)批、購置批或者為其他目的而組成的批）
• 檢驗方法一般按照具體元器件產(chǎn)品的詳細規(guī)范、分規(guī)范、總規(guī)范、基礎(chǔ)規(guī)范及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的檢查方法進行檢驗。
• A組檢驗是為證實產(chǎn)品是否符合規(guī)范要求而對全部產(chǎn)品所進行的非破壞性試驗。主要用來檢查那些最易受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能變化影響的特性，以及對于達到預(yù)定要求至關(guān)重要的性能，檢驗項目包括表面檢查（重量、尺寸）、零件和材料（標(biāo)志、顏色、安全、工藝）、預(yù)先性能、性能特性、運輸試驗等內(nèi)容。經(jīng)過A組檢驗的樣品可作為產(chǎn)品交付。
• B組檢驗一般是比A組檢驗更復(fù)雜或需要更多試驗時間的一種非破壞抽樣檢驗，樣品應(yīng)在經(jīng)過A組檢驗的合格批中隨機抽取，主要用來檢查那些受零部件和設(shè)備質(zhì)量影響較大，而受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能影響較小的特性，以及那些要求特殊工裝或特殊環(huán)境的性能，檢驗項目包括太陽輻射、電磁兼容性、穩(wěn)態(tài)電壓和頻率、電源中斷、功率和功率因素、絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、外殼、磁性材料、焊接和熱設(shè)計等內(nèi)容。所需的受試樣品數(shù)量比A組少，經(jīng)過試驗的樣品稍加整修或不加整修即可作為產(chǎn)品交付。

二、周期檢驗

      周期檢驗是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗合格的某個批或若干批中抽取樣本，并施加各種應(yīng)力的各項試驗，然后檢測產(chǎn)品判定其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗。標(biāo)準(zhǔn)中主要包括C組環(huán)境試驗、D組耐久性壽命試驗。

1. 檢驗批的構(gòu)成樣品應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗合格的一個批或幾個批中隨機抽取，加倍或二次試驗的樣品在抽樣時一次取足。

2. 檢驗方法主要包括：

• 常溫性能檢查，試驗前在正常工作的條件下，對被試樣品進行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)要求，或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類多、用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術(shù)參數(shù)很多，常溫性能檢測時，應(yīng)嚴(yán)格按照技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進行全部指標(biāo)或部分指標(biāo)檢測，檢測合格的產(chǎn)品方可進行周期檢驗項目中的其他項目檢驗。
• 環(huán)境試驗：為了評價在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力，將經(jīng)過性能檢測合格的產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗，以此評價產(chǎn)品在實際使用、運輸、貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗時達到的環(huán)境適應(yīng)能力。環(huán)境試驗還包括高溫負荷貯存試驗、低溫負荷貯存試驗、高低溫變化試驗、交變濕熱和恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗、鹽霧試驗等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣，在周期環(huán)境試驗中，規(guī)定的環(huán)境試驗項目可能是單項試驗，也可能是組合或綜合試驗。
• C組檢驗一般是周期性的破壞性試驗，用來定期檢查那些與產(chǎn)品設(shè)計及材料有關(guān)的特性，檢驗項目包括：高低溫工作及貯存、濕熱、沖擊、顛震、震動、傾斜和搖擺、加速壽命、設(shè)備結(jié)構(gòu)噪聲、包裝試驗等內(nèi)容。C組檢驗通常要求模擬工作環(huán)境，所需的受試樣品的數(shù)量比B組檢驗少，而且與生產(chǎn)量或生產(chǎn)周期有關(guān)。除非另有規(guī)定，經(jīng)過C組檢驗的樣品，承制方將發(fā)現(xiàn)的或潛在的損傷修復(fù)后，再經(jīng)過A組和B組檢驗合格后，可以按合同和訂單交付。
• C組檢驗適用范圍包括：① 孤立批產(chǎn)品的每一個提交批；② 產(chǎn)品正常連續(xù)批生產(chǎn)時，每年進行一次；③ 對產(chǎn)品進行較大設(shè)計、工藝、材料、元器件更改后的提交批；④ 產(chǎn)品長期停產(chǎn)后，恢復(fù)生產(chǎn)時。C組檢驗的樣品應(yīng)在經(jīng)過B組檢驗的合格批中隨機抽取。

      廣電計量檢測集團股份有限公司（GRGT）-集成電路檢測與分析事業(yè)部，長期致力于電子元器件及電子裝備可靠性檢測、失效分析、質(zhì)量認(rèn)證與驗證、 工藝評價與過程監(jiān)控，為客戶提供專業(yè)的質(zhì)量評價與可靠性提升技術(shù)解決方案。中心總部位于廣州、分別 在上海、成都和東莞設(shè)立專業(yè)分實驗中心。中心總體實驗設(shè)備400余臺套，中心技術(shù)人員 165人，其中博士8人，碩士18人、本科以上學(xué)歷68%。

       實驗室擁有CNAS認(rèn)可400余項，認(rèn)可覆蓋GJB7243、GJB548、GJB360、GJB4027等 電子元器件篩選，失效分析和DPA常見的測試項目，通過GJB9001B質(zhì)量管理體系認(rèn)證，具備裝備承制單位二級保密資格。

• 裝備科研生產(chǎn)單位二級保密資質(zhì)
• 通過GJB9001C質(zhì)量管理體系認(rèn)證
• 裝備承制單位資格（試驗類）
• 校準(zhǔn)和測試實驗室（GJB 2725）認(rèn)可
• 中國合格評定國家認(rèn)可委員會認(rèn)定的國家實驗室 （CNAS）認(rèn)證
• 科工局認(rèn)定的國防實驗室（DILAC）認(rèn)證
• 中航601所電子元器件篩選認(rèn)可實驗室
• ZF試驗鑒定局指定偽空包鑒別實驗室
• 航天一院合格供方
• 中國工程物理研究院合格供方

項目咨詢：李經(jīng)理

138 0884 0060

lisz@grgtest.com