檢測認證人脈交流通訊錄
芯片可靠性驗證RA、ESD測試、失效分析FA；就選廣電計量
這真不是您需要的服務？
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對應法規：芯片測試
CNAS認可項目：是 芯片可靠性驗證 ( RA)：
芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；
高溫存儲試驗(HTSL), JESD22-A103 ；
溫度循環試驗(TC), JESD22-A104 ；
溫濕度試驗(TH / THB), JESD22-A101 ；
高加速應力試驗(HTSL / HAST), JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(HTOL), JESD22-A108；
芯片靜電測試 ( ESD)：
人體放電模式測試(HBM), JS001 ；
元器件充放電模式測試(CDM), JS002 ；
閂鎖測試(LU), JESD78 ；
TLP；Surge / EOS / EFT；
芯片IC失效分析 ( FA)：
光學檢查(VI/OM) ；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH ；
Micro-probe;
芯片可靠性驗證及技術交流：
李紹政；138-0884-0060 ；
lisz @ grgtest.com
