芯片可靠性驗證、車規級認證、失效分析

車載芯片車規認證：

芯片車規認證AECQ100；

多芯片模塊車規認證AECQ104；

芯片可靠性驗證 ( RA)：

芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高溫存儲試驗(HTSL), JESD22-A103 ；

溫度循環試驗(TC), JESD22-A104 ；

溫濕度試驗(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速應力試驗(HTSL / HAST), JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(HTOL), JESD22-A108；

芯片靜電測試 ( ESD)：

人體放電模式測試(HBM), JS001 ；

元器件充放電模式測試(CDM), JS002 ；

閂鎖測試(LU), JESD78 ；

TLP；Surge / EOS / EFT；

芯片IC失效分析 ( FA)：

光學檢查(VI/OM) ；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH ；

Micro-probe;

       廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產業部電子602計量站，經過50余年的發展，現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務，在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內領先水平。廣電計量的資質能力處于行業領先水平，其中CNAS認可3408項，CMA認可1990項，CATL認可覆蓋55個類別；在支撐各區域產業高質量發展過程中，廣電計量還獲眾多榮譽稱號。

汽車芯片可靠性驗證及車規級認證：

李紹政；138-0884-0060 ；

lisz @ grgtest.com