大規模多芯片模塊車規AEC-Q104認證

AEC-Q104

       AEC-Q104對多芯片模塊的可靠性測試可細分為加速環境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。

       需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q104的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據客戶的要求，依據標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。

       如果成功完成根據本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q104認證。供應商可以與客戶協商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現的時候才能認為零件通過了AEC Q104 認證。

       若模塊中的所有器件（被動元器件、分立器件、芯片等）都以單獨完成了AECQ認證，那么只需對模塊進行AECQ104標準中H組測試項目，合格后即能申明模塊整體通過AECQ104認證。

Tier 1 : OEM車用模塊/系統廠, 車用電子組件的End-User.

Tier 2 : 使用/制造車用電子組件的廠商, 車用電子組件的Supplier.

Tier 3 : 提供支持與服務給予電子行業, 車用電子的外包商.

AECQ104認證測試周期：

3-4個月，提供全面的認證計劃、測試、報告等服務。

AECQ100認證測試地點：

廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。

試驗后元器件失效分析項目：

① 形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜。

③ 電分析技術：I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。

      廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更專業、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。

大規模芯片（IC）AEC-Q104認證測試業務咨詢及技術交流：

GRGT李工 138-0884-0060；

lisz@grgtest . com