汽車芯片IC、集成電路車規AEC-Q100認證

AEC-Q100認證是什么？

       IC作為重要的車載元器件部件，是AEC委員會持續關注的重點領域。AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據客戶的要求，依據標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。

      如果成功完成根據本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認證。供應商可以與客戶協商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現的時候才能認為零件通過了AEC Q100 認證。

AEC-Q100認證的要求及目的

測試樣品：

1）批次要求：測試樣品應該由認證家族中有代表性的器件構成，由于缺少通用數據就需要有多批次的測試，表1 中列出的測試樣品必須是由非連續晶圓批次中近似均等的數量組成，并在非連續成型批次中裝配。即樣品在生產廠里必須是分散的，或者裝配加工線至少有一個非認證批次；

2）生產要求：所有認證器件都應在制造場所加工處理，有助于量產時零件的傳輸。其他電測試場所可以在其電性質證實有效后用于電測量。

3）測試樣品的再利用：已經用來做非破壞性認證測試的器件可以用來做其他認證測試，而做過破壞性認證測試的器件則除了工程分析外不能再使用；

4）樣品尺寸要求

      用于認證測試的樣品尺寸與（或）提交的通用數據必須與表1中指定的最小樣品尺寸和接受標準相一致。如果供應商選擇使用通用數據來認證，則特殊的測試條件和結果必須記錄并對使用者有可用性。現有可用的通用數據應首先滿足這些要求和表1的每個測試要求。如果通用數據不能滿足這些要求，就要進行器件特殊認證測試。

5)預前應力測試和應力測試后要求：表1中的附加要求欄為每個測試指定了終端測試溫度（室溫、高溫和低溫）。溫度特殊值必須設有最差情況，即每個測試中用至少一個批次的

通用數據和器件特殊數據來設置溫度等級極端。

6）應力測試失效后的定義：

      測試失效定義為設備不符合測試的器件規范和標準規范，或是供應商的數據表，任何由于環境測試導致的外部物理破壞的器件也要被認為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認為是非正確運轉、靜電放電或一些其他與測試條件不相關的原因，失效就算不上，但作為數據提交的一部份上報。

AEC-Q100試驗后元器件失效分析項目：

① 形貌分析技術：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測技術：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質譜SIMS、光譜、色譜、質譜

③ 電分析技術：I-V曲線、半導體參數、LCR參數、集成電路參數、頻譜分析、ESD參數、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發射顯微像、OBIRCH。

AECQ100認證測試、報告周期：

3-4個月，提供全面的認證計劃、測試、報告等服務。

AECQ100測試地點：

廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。

      廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）是原國家信息產業部軍工電子602計量測試站，通過國家實驗室（CNAS）、國防實驗室（DILAC）和總裝實驗室認可，并通過中國計量認證（CMA），是中國CB實驗室，建立企業計量最高標準80多項，通過CNAS、DILAC認可項目1000多項。

      廣電計量失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更專業、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。

車載芯片、集成電路AEC-Q100認證測試：

李紹政（業務經理） 138-0884-0060（微信同號）

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