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儀器類(lèi)別:
應(yīng)用領(lǐng)域:
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主要技術(shù)指標(biāo):JGP450 功能/應(yīng)用范圍:基片上濺射各種薄膜制作樣品 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:其他
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超高真空分子束外延生長(zhǎng)和原位測(cè)量系統(tǒng) (vacuum system for surface studies)
主要技術(shù)指標(biāo):真空度優(yōu)于1*10-10torr 功能/應(yīng)用范圍:超高真空生長(zhǎng)磁性金屬超薄膜以及復(fù)雜氧化物薄膜 技術(shù)特色:能夠生長(zhǎng)各種臺(tái)階樣品以及楔形...
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單頻可調(diào)諧鈦寶石激光系統(tǒng) (pulse dye laser)
主要技術(shù)指標(biāo):Verdi-V10:10W532nmMBR110EL:>1.5w700nm-1000nmMBD-20020mw-500mw350nm-500nm?功能/應(yīng)用范圍:超高分辨率拉曼光譜;可調(diào)諧紫外光源;光致發(fā)光;原子誘捕和冷...
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近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡 (Scan near-field optical microscopy)
主要技術(shù)指標(biāo):采用3DFlatscan掃描器,掃描范圍:XY方向70um、Z方向70um,另外有30um和10um掃描器選配,掃描步進(jìn):70um掃描器<1nm、10um掃描器<0.1nm,掃描器厚度7mm,重量75克;近場(chǎng)光學(xué)顯...
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熒光光譜儀 (Fluorescence spectroscope)
主要技術(shù)指標(biāo):焦距320mm孔徑f/4.1光譜范圍150~1500nm,用1200條/mm光柵;光柵尺寸68mmx68mm支座上最多可裝光柵數(shù)3平場(chǎng)尺寸30mmx12mm分辨率(用出口狹縫和光電倍增管時(shí))0.06nm波...
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氧化物薄膜分子束外延設(shè)備 (oxide molecular beam exptaxy system)
主要技術(shù)指標(biāo):真空度10e-9mbar8個(gè)單質(zhì)蒸發(fā)源單原子層精度控制氧化物薄膜生長(zhǎng)襯底10X10mm 功能/應(yīng)用范圍:小尺寸氧化物薄膜生長(zhǎng) 技術(shù)特色:?jiǎn)卧訉泳瓤刂蒲趸?..
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掃描探針顯微鏡 (Scanning Probe Microscopy)
主要技術(shù)指標(biāo):掃描范圍:10μm×10μm橫向分辨率:~5nm(電學(xué)測(cè)量模式為10~20nm)CAFM電流分辨率<5pA 功能/應(yīng)用范圍:功能包括:AFM,EFM,CAFM,SKM,SCM等...
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主要技術(shù)指標(biāo):實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)結(jié)果,10秒鐘以?xún)?nèi)成像方式,脫離對(duì)傳統(tǒng)膠片等化學(xué)污染品的依賴(lài),整個(gè)系統(tǒng)應(yīng)具有多自由度調(diào)節(jié),可以任意調(diào)整到需要的實(shí)驗(yàn)位置。換樣時(shí)間小于5分鐘,方便迅速。...
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主要技術(shù)指標(biāo):versalab 功能/應(yīng)用范圍:用于測(cè)量樣品的磁矩與磁電阻 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:其他
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超連續(xù)光纖激光器 (Supercontinuum fibre Lasers)
主要技術(shù)指標(biāo):參數(shù)值波長(zhǎng)范圍460-2400nm最小功率密度>3mW/nm重復(fù)頻率(固定的)80MHz總電源脈沖寬度5ps總可見(jiàn)光功率(460-850nm)>1300mW總平均功率(460-1750nm)>4500mW輸出偏振去偏...
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主要技術(shù)指標(biāo):Avg.ModelockedPower:>300mW Bandwidth:>70nm CentralWavelength(nominal):800nm RepetitionRate:80MHz PulseWidth:<20fs Internal...
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主要技術(shù)指標(biāo):真空度5×10-10torr樣品溫度室溫~1000CPLD靶數(shù)量6個(gè) 功能/應(yīng)用范圍:在高氣分下生長(zhǎng)高質(zhì)量的單晶薄膜 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:其他...
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真空系統(tǒng) (Pulsed Laser Deposition)
主要技術(shù)指標(biāo):(1)每臺(tái)真空腔的極限本底真空<3 10-10Torr。(2)PLD腔需帶臭氧發(fā)生器;臭氧工作氣壓>1 10-3Torr;臭氧純度>13%;臭氧導(dǎo)引管需安裝在compactZstage,移動(dòng)范圍...
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強(qiáng)磁場(chǎng)低溫系統(tǒng) (Low temperature superconducting magnet system)
主要技術(shù)指標(biāo):最大磁場(chǎng)15T,最低溫度300mK 功能/應(yīng)用范圍:低溫時(shí)測(cè)量樣品在磁場(chǎng)下電學(xué)輸運(yùn)性質(zhì) 技術(shù)特色:垂直樣品的磁場(chǎng)能達(dá)到15T,測(cè)量噪聲低 ...
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主要技術(shù)指標(biāo):脈沖寬度:30-100fs;重復(fù)頻率:1kHz;調(diào)諧范圍:800-18000nm脈沖能量:1-1000uJ 功能/應(yīng)用范圍:光譜;超快動(dòng)力學(xué)研究 主要測(cè)試和研究領(lǐng)...
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主要技術(shù)指標(biāo):磁控濺射靶位:4個(gè) 功能/應(yīng)用范圍:利用磁控濺射生長(zhǎng)金屬或氧化物薄膜 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:其他...
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主要技術(shù)指標(biāo):CCD:100*1340pixels,CCD效率:400nm到900nm有85%以上的量子效率反射光柵:150G/mm,300G/mm,1200G/mmwith500nmblaze,150G/mmwith800nmblaze,300G/mm,1200G/mmwi...
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主要技術(shù)指標(biāo):波長(zhǎng):1064nm;脈沖寬度:30ps;重復(fù)頻率:20Hz;脈沖能量35mJ 功能/應(yīng)用范圍:皮秒光譜 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:其他...
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電子束蒸發(fā)系統(tǒng) (Thin Film Depostion System)
主要技術(shù)指標(biāo):電子槍功率3kW,本底真空10E-9Torr,6寸旋轉(zhuǎn)樣品托(可液氮冷卻),坩堝5*2.24cc 功能/應(yīng)用范圍:蒸鍍各種金屬薄膜 主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:電子/信...
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主要技術(shù)指標(biāo):測(cè)量模式:接觸模式、輕巧模式、MFM、EFM、智能掃描模式、抬高模式、力曲線模式、TR-Mode、橫向力模式、STM、C-AFM;XY方向不小于90µm×90µm,Z方向不小于10...
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