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主要技術指標:點分辨率:0.19nm晶格分辨率:0.10nm掃描透射晶格分辨率:0.2nm能譜能量分辨率:136eV功能/應用范圍:1.微結構研究:材料的形貌、缺陷和界面的分析;包括衍襯成...
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主要技術指標:X射線發生器:最大輸出功率:3kW,光管功率:2kW;最大管壓:50kV;最大管流:60mA。測角儀:采用光學編碼器技術;測角儀半徑:185~285mm可調;轉動范圍:-110...
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主要技術指標:5X--100X物鏡光學鏡頭, 功能/應用范圍:材料型貌觀察?! ≈饕獪y試和研究領域:材料/珠寶 首飾電子/信息技術 收費標準:其它收費方...
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主要技術指標:1.點分辨率2.3A;2.信息分辨率1A;3.場發射電子槍;4.2k′2kCCD替代普通相機;5.最小束斑直徑1nm 功能/應用范圍:1.微觀形貌結構觀測;2.在位成分...
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主要技術指標:掃描范圍100um(微米),縱向分辨率優于1A(埃),橫向分辨率優于1nm(納米)?! 」δ?應用范圍:掃描探針顯微鏡(SPM)的納米量級的分辨率和光學顯微鏡的...
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主要技術指標:2nm 功能/應用范圍:1.利用二次電子成像,對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。2.利用背散射電子成像,生成化學成分分布圖像。3.用x射線能譜儀,在...
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主要技術指標:(1)深度分辨率:幾個納米;(2)空間分辨率:<一個微米;(3)質量分辨率:m/m5000(4)檢測靈敏度:ppmppb;(5)絕緣層厚度為幾個微米的樣品質譜分析 功能...
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主要技術指標:真空度達1X10-6乇,襯底溫度可達100度直流濺射電源功率1000瓦 功能/應用范圍:有2個DC濺射靶,可以在真空狀態下濺射生成一類材料薄膜或多層不同薄膜,...
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主要技術指標:波長范圍190-1000nm,功能/應用范圍:測量薄膜折射率,消光系數和薄膜厚度主要測試和研究領域:材料/珠寶首飾電子/信息技術收費標準:其它收費...
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主要技術指標:離子束:30kv分辨率7nm,加速電壓2-30kv。電子束:鎢燈絲電子槍 功能/應用范圍:材料微細加工及樣品制備?! ≈饕獪y試和研究領域:材料/珠寶首飾電子/信息...
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主要技術指標:加速電壓0.5-30kv,15kv分辨率1.0nm?! 」δ?應用范圍:材料及微電子、光電子器件微區形貌觀察及組份分析?! ≈饕獪y試和研究領域:材料/珠寶首飾電子/信息...
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主要技術指標:分辨率125。 功能/應用范圍:鈹以上元素定性分析?! ≈饕獪y試和研究領域:材料/珠寶首飾電子/信息技術 收費標準:按樣品、小時數收費 儀...
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主要技術指標:1)Chambersize:600*750*620mm2)Ultimatepressure:8.0*10-7mbar3)3*4"Magnetrons(2*DC&1*rf)4)Co-sputteringprocess5)targetdiameter:100mm...
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主要技術指標:美國di公司,掃描探針顯微鏡NanoScopeIV原子力顯微鏡(AFM)能立體三維觀察物體形貌,側向分辨率(X-Y方向)2nm,垂直分辨率(Z方向)0.1nm。具有多種探測(接觸、非接觸...
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主要技術指標:核磁共振是研究分子結構、運動和反應的強有力技術。隨著多重脈沖技術的應用,固體高分辨核磁共振譜儀應運而生,可以便捷地開展固體高分子的研究。Infinityplus300WB...
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主要技術指標:1.點分辨率:0.27nm;線分辨率:0.14nm。2.加速電壓:20,40,80,120,160&200kV,并可連續調節。3.放大倍數:25X–700KX;放大倍數和相機長度準確度...
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主要技術指標:變溫范圍:室溫~1000°C,樣品容量:60ml/1.3g,天平靈敏度:0.1mg,升溫/降溫速率:0.1°C/min~200°C/min,樣品氣氛:氮氣、空氣。 功能/...
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小動物多角度活體成像系統 (Optical and X-ray Small Animal Imaging System)
主要技術指標:1.科研級制冷16位CCD,400萬像素,最小檢測光子數<50photos/sec/cm2/sr,讀出噪音3e-,暗電流3×10-4e/sec/pixel;2.定焦鏡頭,f/1.1-f16,58mm,視野20&ti...
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掃描電鏡/能譜儀 (Scanning Electron Microscope)
主要技術指標:點分辨率3.5nm,放大倍率15-300000倍?! 」δ?應用范圍:納米材料,介觀材料,半導體材料,高分子材料,生物材料等形貌觀察,以及微觀區域的在線元素分析。...
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透射電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope)
主要技術指標:點分辨率0.23nm,晶格分辨率0.14nm,放大倍率200-1500000。 功能/應用范圍:納米材料,高分子材料,半導體材料,介觀材料,微孔材料等的形貌觀察、結構...
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