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半導體分立器件測試儀(西安佰人科技有限公司)

檢測認證人脈交流通訊錄

大功率IGBT全參數(shù)自動測試系統(tǒng)

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品？
  • 品　　牌：
  • 主要規(guī)格：
  • 用　　途：
  • 測試IGBT igbt測量
    • 我公司提供的該項新產(chǎn)品采用模塊式功放結(jié)構(gòu), 主極電流可提400A/500A/1000A/1250A選項, 2500A/5000A選項可以根據(jù)用戶需要定制.該產(chǎn)品可測IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS, rCE等全直流參數(shù), 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內(nèi)重復測試精度, 達到目前國外進口同類產(chǎn)品領先水平.該產(chǎn)品可針對目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供4/ 8/ 20單元掃描測試適配器, 從而實現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測試.與進口專用測試系統(tǒng)相比, 該產(chǎn)品可同時對各種功率的其它10-18多類半導體分立器件進行全參數(shù)測試, 具有更高的使用效率.與國外同類產(chǎn)品相比, 該產(chǎn)品具有更高的性能價格比和國外廠家不能做到的優(yōu)質(zhì)售后服務保證.

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