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凱特爾儀器(蘇州)有限公司

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光學測量顯微鏡

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  • 常用于電線電纜絕緣和外被之壁厚測試,測試結果為電子數顯可直接讀數不需計量,
    • K-GXW數顯光學測量顯微鏡 它備有精密的測量裝置,可廣泛用于電子行業和細小精密零件檢測、裝配、修理;印刷線路板,印刷絲網板的檢定,還可以用于生物解剖和珠寶鑒定等。常用于電線電纜絕緣和外被之壁厚測試,測試結果為電子數顯可直接讀數不需計量,測量精度高誤差小,可用此儀器取代UL1581,250.9,240.14,250.5,250.10,260.8,280.2 測量儀器.。 主要技術參數: 1、主機定倍:2x/4x 2、目鏡放大倍數:10X 3、總放大倍數:20x/40x 4、視場直徑:10~30mm 5、工作距離:95mm 6、測量工作臺: X軸移動測量范圍:0~25mm;精度:0.01mm(螺紋) 精度:0.001mm(電子數顯) Y軸移動測量范圍:0~25mm 精度:0.01mm(螺紋)精度:0.001mm(電子數顯) 7、圓刻度盤分度范圍:0~360° 圓刻度盤精度:1° 8、照明:透射光,冷反鹵素燈照明。

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