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Thicklab-900X 高精度X熒光測厚儀

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    • ThickLab-900 X熒光測厚儀采用X熒光分析技術,可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒;即可分析出各金屬鍍層的厚度,分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.01μM到60μM。它是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。當鍍層樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理;計算機獨有的特殊應用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
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    馮先生

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