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Luminar 4020 薄膜近紅外分析儀

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    • 主要特點: 光譜范圍:600-1100納米,850-1700納米,900-1800納米,1100-2300納米 測量模式:傳輸 不受外界的光,振動,灰塵等的影響 雙光束,預校準燈,InGaAs探測器 掃描速度快 — 16000波長點/秒,波長穩定性好 嵌入式計算機,以太網接口 小型集成電子和光模塊(300mm x 256mm x 145mm不銹鋼 NEMA 4X;) 厚度范圍: 典型的0-15微米(標準) (超過15微米,可以使用Luminar4030和Luminar7030) 允許的薄片顫振: ±5毫米,±2度 Snap32!分析軟件 典型應用: 涂層材料:丙烯酸,環氧,環氧酚醛樹脂,環氧樹脂,尿素,多層薄膜等 襯底:鋁箔,銅箔板,金屬化聚合物薄膜,鍍錫板等 多層次可被個別衡量。無需測量涂層厚度的準確重量。 電源要求: 24 VDC, 80 Watts或者100-240 VAC, 50/60 Hz, 90 Watts 具體規定: 每個模式的波長范圍 抽樣/工作距離為6毫米± 0.5毫米(從反射面到窗口法蘭) 抽樣地區為直徑10毫米 樣品折射率

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