涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)合科技CTG260(全封閉金屬外殼)分體式全能測(cè)厚儀

　　產(chǎn)品概述：

　　涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)合科技CTG260(全封閉金屬外殼)分體式全能測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿(mǎn)足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。

　　測(cè)量原理：

　　涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)合科技CTG260(全封閉金屬外殼)分體式全能測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

　　◆磁性法(F型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度?！魷u流法(N型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

　　符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T 4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

　　GB/T 4957─1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

　　JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

　　JJG 889─95《磁阻法測(cè)厚儀》

　　JJG 818─93《電渦流式測(cè)厚儀》

　　產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　◆采用密閉金屬外殼，經(jīng)久耐用，有效防止油污，提高儀器使用壽命；◆CTG260高精度涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

　　◆可使用6種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)；

　　◆具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；

　　◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)；

　　◆可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；

　　◆具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；

　　◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

　　◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

　　◆具有電源欠壓指示功能；

　　◆操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

　　◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；

　　◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

　　涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)合科技CTG260(全封閉金屬外殼)分體式全能測(cè)厚儀探頭技術(shù)參數(shù)表測(cè)頭型號(hào)

　　F400

　　F1

　　F1/90

　　F10

　　N1

　　CN02工作原理

　　磁感應(yīng)

　　電渦流測(cè)量范圍(um)

　　0-400

　　0-1250

　　0-10000

　　0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

　　10-200低限分辨力(um)

　　0.1

　　0.1

　　10

　　0.1

　　1示值誤差

　　一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

　　±[3%H+1]

　　±[3%H+10]

　　±[3%H+1.5]

　　±[3%H+1]兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

　　±[(1～3)%H+0.7]

　　±[(1～3)%H+1]

　　±[(1～3)%H+10]

　　±[(1～3)%H+1.5]

　　-測(cè)量條件

　　最小曲率半徑(mm)

　　凸1

　　凸1.5

　　平直

　　10

　　3

　　平直基體最小面積的直徑(mm)

　　ф3

　　ф7

　　ф7

　　ф40

　　ф5

　　ф7最小臨界厚度(mm)

　　0.2

　　0.5

　　0.5

　　2

　　0.3

　　無(wú)限制

　　涂鍍層測(cè)厚儀創(chuàng)合科技CTG260(全封閉金屬外殼)分體式全能測(cè)厚儀測(cè)頭選用參考表覆蓋層

　　有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

　　非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)基體

　　覆蓋層厚度不超過(guò)100µm

　　覆蓋層厚度超過(guò)100µm

　　覆蓋層厚度不超過(guò)100µm

　　覆蓋層厚度超過(guò)100µm如鐵、鋼

　　被測(cè)面積的直徑大于30mm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F1型測(cè)頭0～1250µm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F1型測(cè)頭0～1250µm等磁性金屬

　　F1型測(cè)頭0～1250µm

　　F10型測(cè)頭0～10mm

　　F1型測(cè)頭0～1250µm

　　F10型測(cè)頭0～10mm

　　被測(cè)面積的直徑小于30mm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F400型測(cè)頭0～400µm

　　F1型測(cè)頭0～1250µm

　　F1型測(cè)頭0～1250µm如銅、鋁、

　　被測(cè)面積的直徑大于5mm

　　N1型測(cè)頭0～1250µm

　　僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40µm黃銅、鋅、錫等有色金屬塑料、印刷線路非金屬基體

　　被測(cè)面積的直徑大于7mm

　　-

　　-

　　CN02型測(cè)頭10～200µm

　　基本配置：

　　CTG260主機(jī) 1臺(tái)F1或N1測(cè)頭 1支校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 1套(含試片5片，基體1塊)電池 2節(jié)通訊電纜 1根

　　通訊軟件 1張

　　手提密碼箱 1個(gè)隨機(jī)文件 1套(合格證，保修卡，說(shuō)明書(shū)等)

　　可選附件：F1、N1、F400、F1/90°、F10、CN02等各種用途探頭，微型打印機(jī)。