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檢測認證人脈交流通訊錄

通達 X射線晶體分析儀

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    • 利用X射線衍射原理,精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體、光學晶體、激光晶體、半導體晶體)的切割角度,與切割機配備可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件*儀器。該儀器廣泛應用于晶體材料的研究、加工、制造行業(yè)。
      TYX-200型X射線晶體定向儀測量精度±30″,顯示方式為數(shù)字式,較小讀數(shù)為10″。
      TYX-2H8型X射線晶體定向儀是在TYX-200型的基礎上,改進測角儀結構,增加了承重軌道,X學管管套,支架體,樣品臺升高,可測量1~30公斤,2~8英寸直徑樣品。角度顯示:數(shù)字方式,測量精度±30″。
      X射線晶體定向儀特點
      操作簡便,不需要專業(yè)知識和熟練的技巧。數(shù)字顯示角度,容易觀察,減少了讀數(shù)錯誤。顯示器可在任一位置調零,便于顯示晶片角度偏差值。雙測角儀可同時工作,提高了效率。具有峰值放大的特殊積分器,提高了檢測精度。X光管與高壓電纜一體化,增加高壓可靠性,探測器高壓采用DC高壓模塊,真空吸氣樣品板,提高了測角精度與速度。
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