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洛陽正舉新材料科技有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

便攜式超聲探傷儀

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    • EPOCH便攜式超聲探傷儀 Omniscan X3 Series 提供創新型TFM功能的OmniScanX3相控陣探傷儀 信心滿滿，昭然可見 OmniScanX3相控陣探傷儀是一個完備的相控陣工具箱。其性能強大的工具，包括全聚焦方式（TFM）成像和高級可視化能力，在其高質量成像功能的支持下，可使您更加充滿信心地完成檢測。 提供高級功能的OmniScanX364相控陣和TFM探傷儀 威力強大，小巧便攜 OmniScanX364相控陣探傷儀沿用了已經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的OmniScanX3外殼，其強大的聚焦功能得到了更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利用64晶片相控陣探頭，進行128晶片孔徑的TFM檢測。您可以利用這款儀器的增強性能，迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑戰，并提升您的潛力，為更廣泛的應用開發新程序。 受益于64晶片脈沖發生器相控陣技術 使用OmniScanX364探傷儀可以充分發揮64晶片相控陣探頭的潛力，提高焦點處的分辨率。 向右滑動：使用32通道OmniScanX3探傷儀和64晶片探頭（5L64-A32型號）獲得的圖像。雖然這個S掃描是高質量圖像，但是其分辨率反映了以下事實：只有中間32個晶片可用于聚焦法則。 向左滑動：OmniScanX364探傷儀使用一個全部64晶片孔徑（5L64-A32探頭）獲得的圖像，在焦點處提供了更好的PA分辨率，可使您更輕松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。 https://www.chem17.com/st669973/erlist_2606405.html https://www.chem17.com/st669973/product_39449378.html

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