檢測認證人脈交流通訊錄
- EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行準確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。 性能特點:超薄窗X光管:數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，準度更高，在合金檢測中效果更好. SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好 智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性 高信噪比的電子線路單元.
