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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄

三維光學(xué)輪廓儀

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品？
  • 品　　牌：
  • 主要規(guī)格：
  • 用　　途：
    • 　　Zeta-20 三維光學(xué)輪廓儀的典型應(yīng)用： 　　?MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))　　?光伏太陽(yáng)能電池 　　?微流體設(shè)備　　?數(shù)據(jù)存儲(chǔ)磁盤倒邊 　　?激光打孔　　?半導(dǎo)體晶圓級(jí)芯片級(jí)封裝 　　多功能光學(xué)測(cè)試模組 　　?*ZDot點(diǎn)陣三維成像技術(shù)與強(qiáng)大的算法相結(jié)合，輕易獲得各種樣品表面信息生成高分辨率 3D 數(shù)據(jù)。 　　?ZIC 干涉反襯成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)粗糙度表面的成像及分析。 　　?ZSI 白光差分干涉技術(shù)，垂直方向分辨率可達(dá)埃級(jí)。 　　?ZX5 白光干涉技術(shù)，大視場(chǎng)下納米級(jí)高度的理想測(cè)量技術(shù)。 　　?ZFT 反射光譜膜厚分析技術(shù)，集成寬頻反射光譜分析儀，可測(cè)量 薄膜材料的厚度、折射率和反射率。 　　Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀優(yōu)點(diǎn)： 　　?多功能——能夠在任何表面上進(jìn)行多次測(cè)量 　　?特定應(yīng)用軟件和算法 　　?對(duì)振動(dòng)和樣品傾斜不敏感 　　?高光通量設(shè)計(jì)——實(shí)現(xiàn)其他系統(tǒng)無(wú)法進(jìn)行的測(cè)量 　　?易于使用——用戶可以快速啟動(dòng)和運(yùn)行 　　混合反射率表面測(cè)量：在太陽(yáng)能電池表面氮化物涂層上的銀。銀反射率大于90%，氮化物反射率小于1%，兩者反射率差非常大，Zeta-20高動(dòng)態(tài)范圍可輕松測(cè)量混合反射率表面。 　　三維光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品來(lái)源： 　　http://www.natengyiqi.com/SonList-2338023.html 　　https://www.chem17.com/st125795/product_36785245.html

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