檢測認證人脈交流通訊錄
- 半導體冷熱探針臺特點：
★升溫速度可精確控制，精度達±0.25℃
★體積小巧，占地空間小
★無噪聲、無振動、體積小、重量輕
★支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備
★模塊化設計，可根據客戶要求定制
★無需液氮制冷耗材
主要功能和特點：
寬溫度范圍控制
探針臺能夠實現從低溫（如-60℃甚至更低）到高溫（如+300℃）的精準溫控，滿足不同環境下半導體器件的測試需求。
高精度溫度控制系統
采用先進的制冷和加熱技術，確保溫度穩定且均勻，避免溫度波動對測試結果的影響。
多點溫度測量與反饋
配備多個溫度傳感器，實時監控探針臺和樣品溫度，實現閉環控制，保證測試條件的準確性。
兼容性強
設計兼容各種探針針頭和探針卡，適應不同類型和尺寸的半導體樣品。
高精度機械結構
探針臺機械系統具備納米級的定位精度，方便探針準確接觸樣品的微小電極。
易操作的控制界面
提供友好的軟件界面，方便用戶設定溫度曲線、實時監控測試狀態及數據記錄。
良好的電磁屏蔽和接地設計
有效降低環境電磁干擾，保證電氣測試的準確性。
用途：
半導體冷熱探針臺測試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環境下電學性能，也可用變溫光學測試、變溫電學測試、材料表征等分析。廣泛應用于半導體電學性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業的制造和研究領等系統中的重要部件。
冷熱臺
http://www.jmant.cn/ParentList-2570532.html
https://www.chem17.com/st648276/product_39083054.html
