檢測認證人脈交流通訊錄
- 名稱：聲掃顯微鏡 型號：V-400E 產地：德國 應用：晶圓面處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等） 產品應用： 聲掃顯微鏡應用領域： 半導體電子行業：半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等; 材料行業：復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等； 生物醫學：活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等 在失效分析中的應用： 晶圓面處分層缺陷 錫球、晶圓、或填膠中的開裂 晶圓的傾斜 各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等） 聲掃顯微鏡的在失效分析中的優勢： 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構 可分層掃描、多層掃描 實施、直觀的圖像及分析 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計 可顯示材料內部的三維圖像 對人體是沒有傷害的 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等） 主要參數： -該型號顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。 - 掃描速度最高可達：2000mm/s - 與其它品牌機型相比掃描效率高30% - 最大掃描范圍：400mm×400mm - 最小掃描范圍：200μm×200μm - 射頻最大帶寬：500MHz - 新型FCT防誤判探頭 聲掃顯微鏡 http://www.analysis-tech.net/SonList-1852446.html https://www.chem17.com/st331269/erlist_1852446.html
