檢測認證人脈交流通訊錄
- 全自動掃描電鏡主要用于雜質或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括：
顆粒粒度分布
顆粒形貌分析
雜質成分檢測
高分辨率成像（8 nm 分辨率）
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎，結合自動控制系統以及強大的數據庫系 統，可以全自動對雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。
Phenom XL.jpg
ParticleX 全自動顆粒分析系統
產品參數
電子顯微鏡：200,000 倍
探測器：高靈敏度四分割背散射電子探測器
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
分辨率：優于 10 nm
放置環境：采用專業防震設計，可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房
加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續可調
抽真空時間：小于 30 秒
能譜儀：可選配能譜儀
· 全自動鋰電正負極雜質分析
ParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計， 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆粒的形態、數量和種類，以此判定是哪個生產環節出了問題。
· 全自動鋼鐵夾雜物分析
ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現的分析工具。為鋼鐵材料的研發、生產、質量控制與評級提供了便利。
產品來源：
http://www.desktopsem.com/Products-26538793.html
https://www.chem17.com/st232783/product_36743914.html
